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| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀
WIZ-QS-110 是一款自動干涉儀，用于檢測單光纖連接器、套圈和裸光纖。WIZ-QS-110 被設計為在大批量生產環境中對光纖連接器進行干涉檢測的基本解決方案，在這些環境中，速度、簡單性和精度是最重要的。白光測量算法和無需頻繁校準的精確對準燈具使其在同類產品中的競爭中脫穎而出。
注：WIZ-QS-110是WIZ-QS+干涉儀的升級型號，保留了其所有優點。
通過輕松插入套圈/連接器和夾具處理來節省時間。
2：自動對焦
將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。
旋轉、縮放、縮放圖像以探索小至 2.5 μm 的表面細節。
使用 USB 3.0 SuperSpeed 連接，最快可在 1.3 秒內測量單根光纖連接器和套圈。
節省在快速模式下測試大量連接器的時間。
測量曲率半徑、頂點偏移、光纖高度、纖芯傾角等。
無需在每次使用前或在燈具之間更換時校準燈具。
8：應用范圍廣
檢查單光纖連接器、套圈、裸光纖、Arinc、MS 終端、PC 和 APC。
準確檢測具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。
WIZ-QS-110干涉測量系統包括：
WIZ-QS-110干涉儀
用于設備驗證的光學平面標準
USB 3.0 數據線
AC適配器
箱
MaxInspect™ 軟件許可證
光學分辨率：2.5微米
適合連接器/套圈：ST、FC、SC、MU、LC、E2000™、Arinc、MS termini – PC 和 APC，裸光纖
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